菲希爾x射線測厚儀代理

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X射線熒光分析法 (XRFA)：

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能*勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

X射線熒光法（XRFA）的優(yōu)點：

快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）

分析固態(tài)，粉末或液態(tài)樣品

有害物痕量分析

高精度和準確度

十分廣泛的應(yīng)用

準確測量基材是磁性和導(dǎo)電的材料

樣品制備非常簡單

測試方法安全，沒有使用危害環(huán)境的化學(xué)制品

無耗品，物超所值

菲希爾xan215參數(shù)

無錫駿展儀器有限責任公司在以下領(lǐng)域具有*的優(yōu)勢:

1. 為機械加工、*制造、新材料應(yīng)用、科研等前沿產(chǎn)業(yè)提供更新的檢測設(shè)備和檢測技術(shù);

2. 在產(chǎn)品質(zhì)量控制和可靠性提升方面為客戶提供更有效的解決方案和技術(shù)服務(wù);

3.為客戶提供車間、實驗室所需的各種檢測儀器，并提供技術(shù)支持、維護和維修服務(wù)。