德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。

德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。

正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。